在GIS内分别模拟了带电导体上尖端、壳体内壁上尖端、自甫金属颗粒、悬浮电位、绝缘子内气泡以及黏附在绝缘子表面的金属颗粒等6种典型故障缺陷。同时通过测试系统记录的放电脉冲和AIA超声波脉冲的相位分布比较、不同缺陷在一定电压下的脉冲放电量大小比较.以及不同缺陷超声波脉冲有效值和周期峰值的特征和大小比较.分析得出一些经验判据来帮助利用超声波检测法对GIS局部放电类型进行识别。
2.2.1 带电导体上的尖端
在GIS导体上安装一根长5 mm、直径1mm的金属尖刺并施加不同的电压来模拟带电导体上尖端放电缺陷。AIA超声波传感器距离尖刺约2 000 mm。图2所示是常规局部放电仪测得的127 kV试验电压下放电脉冲相位分布和放电量大小的情况:在外加电压负半周发生放电的次数和强度都明显大于正半周.成不对称分布:最大放电量发生在外加电压波峰附近,并随着外加电压的增加而变大。图3所示是127 kV试验电压下超声波脉冲相位分布和脉冲幅值的情况:超声波脉冲在参考电压正负半周的形状和大小相似,并且随着外加电压的变化.其分布相位也会出现相应的漂移导致最大脉冲提前于或滞后于参考电压波峰一定角度.
2.2.2壳体内壁上的尖端
将带电导体上的金属尖刺移置并固定安装到壳体内壁上,尖端指向导体.然后施加不同的电压来模拟壳体内壁上尖端放电的故障缺陷。AIA超声波传感器距离尖刺大约2 000 mm。在外加电压294 kV下试验结果见图4、5。壳体上尖端的脉冲放电模式正好和带电导体尖端的放电模式相反.虽然也是不对称分布。但其在外加电压正半周的放电次数和放电量大小均明显大于负半周。最大放电量发生在外加电压波峰附近。而超声波脉冲分布的形状和大小仍然基本相似,相位也随着外加电压的变化而产生一定漂移。
对于相同大小的尖端.处于壳体上时其起始放电电压明显比位于带电导体上时要高很多。在相同放电电压下.前者的局部放电量和超声波脉冲的幅值也小于后者。
值得注意的是.在局部放电常规检测时.该模拟缺陷在规定电压下的局部放电量小于国标规定的5 pC的限定值,试品的局部放电在合格范围内。而超声波检测结果能更突出地体现故障缺陷的存在。
2.2.3 自由金属颗粒
在GIS腔体内放置一颗直径约4 mm的铝箔揉制的球状颗粒,然后施加不同的电压来模拟自由金属颗粒放电的故障缺陷。在外加电压90 kV下试验结果见图6、7。在外加电压正负两个半周内的放电次数基本相同并成对称分布:最大放电量发生在电压正负波峰附近且大小相等。随着外加电压的升高.放电强度明显增大。自由颗粒在电场的作用下会产生跳动并与外壳碰撞激发出超声波.因为这种跳动和碰撞是无规律的.所以其激发的超声波脉冲的分布很随机杂乱无任何相位相关性。信号水平很高。
2.2.4悬浮电位
将一个盆式绝缘子安装在试品GIS通管端部,其中央金属导体距离通管的带电导体大约20 mm构成一个悬浮电位.再通过施加不同的电压来模拟该类缺陷的放电情况。AIA超声波传感器距离缺陷点大约1500 mm。在外加电压143 kV下试验结果见图8、9。放电现象在正负两个半周都比较明显。尤其是外加电压超过放电起始电压后放电量随电压升高而快速增长.最大放电量发生在外加电压波峰附近。超声波脉冲也较为集中地分布于参考电压波峰附近.
2.2.5绝缘子上颗粒
用胶带将一根长5 mm、直径1 mm的铜丝粘贴在盆式绝缘子上.距离其中央金属导体约7 mm.然后施加不同的电压来模拟绝缘子上颗粒放电的故障缺陷。AIA超声波传感器距离缺陷点大约1 500 mm。在外加电压294 kV下试验结果见图10、11。在外加电压波形上升段发生的放电次数明显高于下降段.正负两个半周的放电次数和放电量大小分布十分相似.只是局放相位与外加电压相位会出现偏移而使得最大放电量没有出现在外加电压波峰附近。超声波脉冲在参考电压正负两个半周上分布的形状和大小基本相似,信号水平不高。
2.2.6绝缘子中气泡
将一个带有两个空气气泡的绝缘子安装到试验GIS通管上。然后施加不同的电压来模拟绝缘子气泡放电的故障缺陷。AIA超声波传感器距离缺陷点大约500 mm。在外加电压294 kV下试验结果见图12、13。放电情况在外加电压正负两个半周基本相同.并且具有很大的放电强度.但放电相位与外加电压相位出现一定的偏移。由于环氧树脂对放电信号衰减很大.绝缘子内部放电产生的超声波脉冲信号都被其吸收掉而无法传递到外部.所以超声波传感器几乎检测不到任何超声波脉冲.脉冲相位分布平坦等同于背景噪音水平。
2.3 故障特征分析和诊断
通过上述试验及分析.可以得出GIS典型故障放电在两种检测模式下的图谱特征.从而为故障的类型诊断提供一些经验判据。具体放电图谱特征见表1。
3 结论
通过局部放电常规检测与局部放电超声波检测对比试验证明:
(1)超声波检测法对金属尖端、自由金属颗粒、悬浮电位等缺陷具有较高的灵敏性.而对绝缘子气泡和绝缘子表面颗粒等缺陷不敏感。超声波检测法抗干扰能力强。
(2)在GIS出厂试验阶段引人超声波检测法,对于局部放电常规检测来说它是种有益的补充.能为一些故障缺陷的检测和判断提供进一步的信息.如壳体上尖端缺陷。
(3)对比试验的分析结果可以作为GIS现场局部放电测量的判据.用于评估现场GIS故障缺陷.掌握GIS设备绝缘性能状况。
李德军1,2, 沈威2, 郭志强2
(1.上海交通大学电子信息与电气工程学院,上海200240;2.上海西门子高压开关有限公司,上海200245)